布鲁克亮相2017年第七届中国国际纳米科学技术会议

摘要: 会议期间,中国科学院院长、大会主席白春礼一行来到布鲁克展台视察指导。

第七届中国国际纳米科学技术会议(CHINANANO 2017)于8月31日在北京闭幕。来自全球30多个国家和地区的2000多名代表出席了本次大会。作为表面观测和测量技术的全球领导者,布鲁克公司纳米表面仪器部携品牌最新产品与前沿科技盛装亮相。

由国家纳米科学技术指导协调委员会主办,国家纳米科学中心承办的CHINANANO2017,自2005年举办至今,已成长为具有较强世界影响力的、综合性品牌国际会议。本次大会围绕纳米科技的总体发展,聚焦18个主题,为学术界、产业界的交流与讨论及未来的合作提供了绝佳机会。在三天的会期中,包括诺贝尔奖获得者、石墨烯的共同发现者康斯坦丁·诺沃舍洛夫教授在内的7位世界一流的纳米科技领域专家作大会特邀报告,500多位科学家在18个分会场作邀请报告,400余位科学家做口头报告,800余篇论文以墙报交流。可以说,本次会议充分发挥了纳米科技的创新驱动和示范引领作用,进一步夯实我国在世界范围内的纳米强国地位。

而作为世界上最完整的原子力显微镜、三维非接触式光学轮廓仪和探针式表面轮廓仪系列产品、摩擦磨损、纳米压痕系列及全套解决方案的提供商,布鲁克公司纳米表面仪器部在历届CHINANANO大会上从未缺席。本届大会,布鲁克在极富动感的展台上带来了最前沿的尖端科技,展示了品牌不遗余力打造表面观测与测量技术领域排头兵的决心,提供了一个与用户面对面交流的完美平台。

会议期间,中国科学院院长、大会主席白春礼一行来到布鲁克展台视察指导。资深应用科学家孙昊博士为白院长详细介绍了Bruker AFM最近取得的新进展,包括峰值力压电力响应显微镜(PeakForce PFM)、峰值力扫描电化学显微镜(PeakForceSECM)、基于快速力阵列(Fast Force Volume,FFV)获得Data Cube的一些技术,如接触共振结合FFV同时测量样品的储能模量、损失模量、损耗角、粘附力,扫描电化学显微镜结合FFV得到每一个像素点的逼近曲线来研究反应动力学,隧穿原子力结合FFV测得每一个像素点的IV曲线,压电力响应显微镜结合FFV测得压电信息、接触共振信息、畴壁信息,畴反转的动态信息等等,以及液下电学测量技术,如在液体中测量导电性、压电以及电势。

  同时孙博士还展示了新产品带来的一些新发现,如液体中材料或器件表现出的与空气中不同的电学性质等。白院长详细询问了实现这些功能特别是液体中的电学测量所需要的技术手段,并了解了布鲁克新技术用于锂电池电极原位研究和生理环境下生物压电材料的研究的一些新数据,孙博士就白院长提出的各种科学问题一一作了详细介绍解答。讲解结束后,白院长对布鲁克纳米表面仪器部门科研团队的创新努力表示非常赞赏。

在布鲁克展台展示的一款生物型原子力显微镜(BioscopeResolve)面前,纳米表面仪器部资深应用科学家叶鸣博士向白春礼院长详细介绍了该款产品在生物分子成像与活细胞成像方面的优异性能,并介绍了布鲁克对软样品高分辨测量的技术进步。此外,叶博士还就peakforce先进性等问题与白院长进行了深入交流介绍。向白院长展示了Bruker一系列为溶液环境高分辨成像所优化的异型探针,新探针在溶液环境下的优异性能表现与独特设计思路给白院长留下了深刻印象。


此次CHINANANO,布鲁克动用大量人力将重达一千多公斤的Resolve全套系统安装到了展会的现场,无疑成为了CHINANANO让人印象最为深刻的一件参展仪器设备。

多年来,布鲁克纳米表面仪器部一直着眼于研发新的计量检测方法和工具,不断迎接挑战,致力于为客户解决各种技术难题,提供最完善的解决方案。此外,根据工业生产中的操作模式和操作习惯,针对生产中的特定应用需求,为客户量身打造相匹配的仪器设备,简化生产过程的操作流程,提高工作效率。

目前,布鲁克的表面测量仪器广泛用于大学、研究所,工业领域的LED行业、太阳能行业、触摸屏行业、半导体行业以及数据存储行业等,进行科学研究、产品开发、质量控制及失效分析,提供符合需求和预算的最佳解决方案。

本次大会,布鲁克不仅站在行业尖端学术平台一展雄风,与产业界中外专家和企业家交流经验展开思想碰撞,更充分展示了科研团队应用研究与成果转化的的出色成效,传递出力做纳米技术先行者与最优解决方案提供者的强音。

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